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鐵金屬材料的非磁性薄膜厚度測量技術
便攜式膜厚儀QNIx系列的特點
無需薄膜校準即可進行精確的薄膜厚度測量
出廠時輸入 16 點校準數據即可交付。
這消除了繁瑣的薄膜校準工作，并實現了精確的薄膜厚度測量。
薄膜厚度測量數據傳輸新技術
在傳統的測量儀器中，測量數據是通過用電纜連接儀器主體和個人計算機來傳輸的。QNIx 系列使用，只需將其插入 USB 端口即可進行傳輸。可以更快、更輕松地查看測量數據。
超輕量無線測量儀
探頭測量的數據以無線方式傳輸到主機。與傳統產品一樣，它還降低了被電纜卡住、擋路和導致墜落事故的風險。此外，探頭重 30 克，超輕巧，因此您不必隨身攜帶沉重的儀器。
不易折斷且在被測物體上無痕跡的探頭
QNIx 系列探頭采用增強塑料包圍，可將耐用性提高 30%。即使發生故障，也很容易拆卸和維修，因此縮短了維修周期。此外，附有紅寶石前端，因此可以安全地進行測量，而不會損壞待測物體（樣品）。
QNIx系列比較規格表
| | QNIx 8500 | QNIX | QNIx 7500 | QNIX 驗車 | QNIX Handy |
| 可測量薄膜 | [F] 鐵材料上的非磁性涂層 | [FN]鐵和非鐵材料上的非磁性、非導電涂層。 | [FN]鐵鋁材料上 | ||
| 材料識別 | 鐵和非鐵材料的 | 鐵和非鐵材料的自動識別交換 | 用戶規定的轉換 | 鐵和非鐵材料的 | 鐵/非鐵，自動 |
| 測量原理 | [F] 磁通量（霍爾效應） | ||||
| 測量范圍 | 0 至 2,000 μm | 0 ~ 3,000 微米 | 0 至 2,000 μm | 0 ~ 5,000 微米 | 0～500微米 |
| 分辨率 | 0.1 μm、1 μm | 1微米 | 0.1微米 | 0.1微米，1微米 | 5微米 |
| 配置格式 | 0點校正 | 0點校正 | 0點校正 | 無校準功能 | 無校準功能 |
| 準確性 | ± (1 μm + 2%) | ± (2 微米 + 3%) | ± (1 微米 + 3%) | ± (1 μm + 2%) | ± (10 微米 + 5%) |
| 測量速度 | (約40次/分鐘) | 600ms（約70次/分鐘） | 1,300ms（約46次/分鐘） | 1,500ms（約40次/分鐘） | 600ms（約100次/分鐘） |
