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采用光學薄膜監測技術的顆粒計數測量分析

發布日期：2023-02-08 瀏覽次數：986

采用光學薄膜監測技術的顆粒計數測量分析

光學膠片監測技術是利用粒子可視化技術，實時高速測量粒子數量的技術。

[1] 使用粒子可視化系統

靜態計數法

使用圖像處理包附帶的“ParticleEye"從粒子的可視化圖像中提取靜止圖像后，使用包中附帶的“ParticleEye SCF"進行計數。

動態計數法

在可視化的現場實時計數的方法使用可選軟件“ParticleEye DCF"。也可以在記錄可視化圖像的同時進行計數。

世界上<span class=
ParticleEye DCF（視頻）

[2] 使用專門用于計數的系統

移動可視化計數設備“Type-S"

這是一款易于在現場使用的移動式計數設備，可讓您在查看手邊的監控器的同時快速調查粉塵來源和泄漏位置。

S型

粒子產生量評價裝置“L-Wind"

可以定量評估在清潔環境中使用的產品產生的粉塵和生產設備機械元件的泄漏。可以準確地檢測和計數整個數量，即使是最小數量的顆粒也不會丟失。這是一種不同于傳統吸氣式計數器的新型計數評價裝置。

左風（圖片）

[3] 建立新的計數系統

我們可以單獨接受構建應用可視化技術的新型粒子檢測和計數系統的請求。請隨時與我們聯系。
下圖就是這樣的一個例子，但它是一個可以實時檢測液體中細小顆粒的系統。它還可用于監測在化學管道內流動的液體中的異物。

液體中粒子監測系統（圖片）

利用粒子計數監測技術的最佳解決方案

細顆粒可視化的最佳光源是“Parallel Eye H"
“Parallel Eye F"是在光線無法到達的密閉或狹窄空間中檢測細小顆粒的最佳光源。
兼具靈敏度和微粒子檢測功能的超高感度相機是專用超高感度相機“Iscope" 。

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