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軟膜和薄膜用臺式離線電容式測厚儀TOF-C2

發布日期：2021-09-26 瀏覽次數：1561

軟膜和薄膜用臺式離線電容式測厚儀TOF-C2

模型	TOF-C2 * TOF-C的后繼機型
測量方法	非接觸式/電容式
測量對象	薄膜、粘性保護膜、易沾灰塵的薄膜
測量原理	電容式

產品特點

高測量分辨率
由于它是非接觸式，因此非常適用于難以用接觸式測量的薄膜。
即使表面狀況粗糙，也可以進行測量。
基重測量
操作簡單（具有自動介電常數設置功能）

產品規格

測量厚度	~ 500 微米
測量長度	10 至 10000 毫米
測量間距	1 毫米 ~
小顯示值	0.01微米
電源電壓	AC100V 50 / 60Hz
工作溫度限制	5-40°C（測量時溫度變化1°C以內）
濕度	35-80%（無冷凝）

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