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產(chǎn)品展示

PRODUCT DISPLAY

大米相關(guān)設(shè)備儀器
- 食感試驗(yàn)機(jī)
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- 大米外觀品質(zhì)檢測儀
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光源設(shè)備
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- 分光計(jì)
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- UV光源
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硬度計(jì)
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泵
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配件/耗材
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陶瓷制品
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試驗(yàn)機(jī)
- 振動疲勞試驗(yàn)機(jī)
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水質(zhì)檢測設(shè)備
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粉碎設(shè)備
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超聲波設(shè)備
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傳感器
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- 壓縮傳感器
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物理性能檢測
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其他設(shè)備
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可安裝在量產(chǎn)設(shè)備中的膜厚檢測儀AFW-100W

發(fā)布日期：2021-10-25 瀏覽次數(shù)：1628

可安裝在量產(chǎn)設(shè)備中的膜厚檢測儀AFW-100W

推薦使用反射光譜膜厚計(jì)用于膜厚測量應(yīng)用，例如硬涂層。

[機(jī)理]

當(dāng)樣品受到光照射時(shí)，它會根據(jù)膜厚顯示出*的光譜。薄膜表面反射的光與穿過薄膜并在基板表面反射的光相互干擾。當(dāng)光的相位匹配時(shí)，強(qiáng)度增加，而當(dāng)光相移時(shí)，強(qiáng)度降低。反射計(jì)是一種通過分析該光譜來測量薄膜厚度的方法。

[優(yōu)點(diǎn)]

-與 SEM 和觸針式輪廓儀不同，無需接觸即可進(jìn)行測量。
- 與橢偏儀相比，便宜且易于使用。

將來也可以安裝在量產(chǎn)設(shè)備中。

模型	AFW-100W
用	對于一般膜厚
設(shè)備配置	單元主體、測量臺、2 分支光纖 (1.5m)、PC
測量波長范圍	380-1050nm
膜厚測量范圍	100nm～1μm（曲線擬合法）
膜厚測量范圍	1 μm 至 60 μm (FFT)
測量再現(xiàn)性	0.2%-1%（視膠片質(zhì)量而定）
測量光斑直徑	約7mm
光源	12V-50W鹵素?zé)?/span>
測量理論	曲線擬合法/FFT法
外形尺寸 (mm)	測量臺：W150 x D150 x H115
外形尺寸 (mm)	機(jī)身：W230 x D230 x H135
大約重量	5.5kg * 不包括 PC
公用事業(yè)	AC100V 50 / 60Hz
轟天猛將	鹵素?zé)?/span>

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