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光學薄膜新款研發用測厚儀介紹

發布日期：2022-02-18 瀏覽次數：1276

光學薄膜新款研發用測厚儀介紹

模型	TOF-6R001
測量方法	接觸式/線性量規
測量對象	薄膜高精度塑料薄膜（聚酰亞胺薄膜、光學薄膜等）
測量原理	線性規

產品特點

離線輕松快速地測量厚度
測量數據實時顯示在屏幕上
測量數據可以自動保存在個人電腦上
由于是通過自動運輸測量，所以測量數據沒有個體差異。
也可用于調整雷達圖上的充氣膜。
實現接觸式測量，小顯示值為 0.01 μm

產品規格

測量厚度	5-100微米
測量長度	10 至 10000 毫米
測量間距	0.1毫米~
小顯示值	0.01微米
測量壓力	0.19 牛 (0.12 牛)
電源電壓	AC100 伏 50/60 赫茲
工作溫度限制	10-40℃
濕度	35-80%（無冷凝）
能量消耗	50 VA（不包括 PC）
選項	?卷紙打印機輸出功能 ?連續測量功能 ?每個特殊的觸控筆 ?圖像傳輸功能

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聯系方式

電話
傳真

在線交流

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